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XRF常見設備分析原理簡介

引言:

X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer，XRF光譜儀)：

以快速、非破壞式的測量方法量測物質。

X射線螢光分析法(X-ray fluorescence，XRF)：

是利用高能量X射線射擊樣品表面材料激發出螢光(又稱次級X射線、特徵射線)，利用此螢光作為元素定性定量分析的方法。

XRF輻射光譜儀原理解析示意圖

XRF與我們生活可見的產業領域應用